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便攜式放射性測量設備

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您的位置：首頁 - 產(chǎn)品中心 - 便攜式放射性測量設備 - 多功能輻射測量儀 - NY-20119孔圓盤鋁板低對比度細節(jié)檢測模體

19孔圓盤鋁板低對比度細節(jié)檢測模體

產(chǎn)品型號：NY-201
更新時間：2024-07-18

簡要描述：

19孔圓盤低對比度細節(jié)檢測模體 NY-201

產(chǎn)品簡介

19孔圓盤低對比度細節(jié)檢測模體 NY-201

1.用于CR和DR成像系統(tǒng)低對比度細節(jié)分辨力檢測。

2.直徑100mm，20mm厚;鋁板上均布19個1cm孔徑圓孔。

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產(chǎn)品詳情

19孔圓盤低對比度細節(jié)檢測模體 NY-201

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1.用于CR和DR成像系統(tǒng)低對比度細節(jié)分辨力檢測。

2.直徑100mm，20mm厚;鋁板上均布19個1cm孔徑圓孔。

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2.直徑100mm，20mm厚;鋁板上均布19個1cm孔徑圓孔。

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1.用于CR和DR成像系統(tǒng)低對比度細節(jié)分辨力檢測。

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19孔圓盤低對比度細節(jié)檢測模體 NY-201產(chǎn)品簡介 19孔圓盤低對比度細節(jié)檢測模體 NY-2011.用于CR和DR成像系統(tǒng)低對比度細節(jié)分辨力檢測。2.直徑100mm，20mm厚;鋁板上均布19個1cm孔徑圓孔。

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19孔圓盤低對比度細節(jié)檢測模體 NY-201

1.用于CR和DR成像系統(tǒng)低對比度細節(jié)分辨力檢測。

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